2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
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| Titolo: |
2013 22nd Asian Test Symposium : (ATS 2013) : Yilan, Taiwan, 18-21 November 2013 / / Asian Test Symposium (22nd : 2013 : I-lan hsien, Taiwan)
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| Pubblicazione: | Piscataway, NJ, : , : IEEE, , 2013 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (309 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Electronic circuits - Testing |
| Electronic digital computers Circuits - Testing | |
| Fault-tolerant computing | |
| Altri titoli varianti: | Test Symposium |
| Titolo autorizzato: | 2013 22nd Asian Test Symposium |
| ISBN: | 0-7695-5080-0 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910132357903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |