Characterization of semiconductor materials : principles and methods
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| Titolo: |
Characterization of semiconductor materials : principles and methods
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : Noyes Publications, 1989 |
| Disciplina: | 621.3815/2 |
| Soggetto topico: | Semiconductors |
| Physics | |
| Physical Sciences & Mathematics | |
| Electricity & Magnetism | |
| Persona (resp. second.): | McGuireG. E |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | Characterization of semiconductor materials : principles and methods |
| ISBN: | 0-8155-1634-7 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9911006670803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |