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Titolo: | IEEE International Workshop on IDDQ Testing : digest of papers, November 5-6, 1997, Washington, D.C |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society Press, 1997 |
Disciplina: | 621.39/5/0287 |
Soggetto topico: | Iddq testing - Congresses |
Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing - Congresses | |
Electrical & Computer Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Electrical Engineering | |
Persona (resp. second.): | JayasumanaAnura P |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | IEEE International Workshop on IDDQ Testing : digest of papers, November 5-6, 1997, Washington, D.C |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910872626003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |