Optical radiation measurements : Stability and temperature characteristics of some silicon and selenium photodetectors / / Kshitij Mohan, A. Russell Schaefer, Edward F. Zalewski
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| Autore: |
Mohan Kshitij
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| Titolo: |
Optical radiation measurements : Stability and temperature characteristics of some silicon and selenium photodetectors / / Kshitij Mohan, A. Russell Schaefer, Edward F. Zalewski
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| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1973 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Altri autori: |
MohanKshitij
SchaeferA. Russell
ZalewskiEdward F
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| Note generali: | 1973. |
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| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Altri titoli varianti: | Optical radiation measurements |
| Titolo autorizzato: | Optical radiation measurements |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910711390103321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |