Vai al contenuto principale della pagina

Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs / / Guntrade Roll



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Autore: Roll Guntrade Visualizza persona
Titolo: Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs / / Guntrade Roll Visualizza cluster
Pubblicazione: Berlin : , : Logos Verlag Berlin, , [2014]
©2014
Descrizione fisica: 1 online resource (242 pages)
Disciplina: 621.3815284
Soggetto topico: Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Soggetto genere / forma: Electronic books.
Titolo autorizzato: Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs  Visualizza cluster
ISBN: 3-8325-9666-6
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910466968503321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui