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Titolo: | 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : proceedings : 3-7 May 2009 Santa Cruz, CA, USA ; VTS 2009 |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2009 |
Disciplina: | 621.39/5 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
Electrical Engineering | |
Electrical & Computer Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : proceedings : 3-7 May 2009 Santa Cruz, CA, USA ; VTS 2009 |
ISBN: | 1-5090-7567-4 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910140015403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |