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Titolo: | IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) : IEEE Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubblicazione: | Piscataway, NJ, USA : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (230 pages) |
Disciplina: | 621.3815 |
Soggetto topico: | Boundary scan testing |
Microelectronics | |
Sommario/riassunto: | IEEE Std 1149.1(TM) is augmented by this standard to improve the ability for testing differential and/or ac-coupled interconnections between integrated circuits on circuit boards and systems. |
Altri titoli varianti: | IEEE Std 1149.6-2015 |
Titolo autorizzato: | IEEE Std 1149.6-2015 (Revision of IEEE Std 1149.6-2003) |
ISBN: | 1-5044-0596-X |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910136383603321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |