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Titolo: | Advanced mathematical and computational tools in metrology and testing X / edited by F. Pavese ... [et al.] |
Pubblicazione: | Singapore, : World scientific, 2015 |
Descrizione fisica: | xi, 429 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 62-XX - Statistics [MSC 2020] |
62P30 - Applications of statistics in engineering and industry; control charts [MSC 2020] | |
68Uxx - Computing methodologies and applications [MSC 2020] | |
Persona (resp. second.): | Pavese, Franco |
Titolo autorizzato: | Advanced mathematical and computational tools in metrology and testing X |
ISBN: | 978-98-14-67861-2 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00275696 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |