Standard reference materials : certification of a standard reference material for the determination of interstitial oxygen concentration in semiconductor silicon by infrared spectrophotometry / / Brian G. Rennex

• Autore: Rennex Brian
• Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1994
• Descrizione fisica: 1 online resource
• Note generali: 1994.; Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.; Title from PDF title page.
• Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
• Altri titoli varianti: Standard reference materials
• Titolo autorizzato: Standard reference materials
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 9910709562903321
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