On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond / / Andrej Rumiantsev
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| Autore: |
Rumiantsev Andrej
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| Titolo: |
On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond / / Andrej Rumiantsev
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| Pubblicazione: | Gistrup, Denmark ; ; Delft, Netherlands : , : River Publishers, , [2019] |
| ©2019 | |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (278 pages) |
| Disciplina: | 621.38152 |
| Soggetto topico: | Semiconductors - Characterization |
| Soggetto genere / forma: | Electronic books. |
| Titolo autorizzato: | On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond |
| ISBN: | 87-7022-111-1 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910478905803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
River Publishers series in electronic materials and devices.