DBT 2005 : proceedings, 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005 : 1 May 2005
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| Titolo: |
DBT 2005 : proceedings, 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005 : 1 May 2005
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| Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2005 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (81 pages) |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Defects |
| Iddq testing | |
| Metal oxide semiconductors, Complementary | |
| Titolo autorizzato: | DBT 2005 |
| ISBN: | 1-5386-0065-X |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910142184203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |