2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
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| Titolo: |
2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
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| Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2008 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (456 pages) |
| Soggetto topico: | Fault-tolerant computing |
| Electronic circuits - Testing | |
| Electronic digital computers - Circuits - Testing | |
| Titolo autorizzato: | 2008 17th Asian Test Symposium |
| ISBN: | 1-5090-8449-5 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910139855303321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |