1.
Record Nr.
UNINA9910139855303321
Titolo
2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008
Pubbl/distr/stampa
New York : , : IEEE, , 2008
ISBN
1-5090-8449-5
Descrizione fisica
1 online resource (456 pages)
Soggetti
Fault-tolerant computing
Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Lingua di pubblicazione
Inglese
Formato
Materiale a stampa
Livello bibliografico
Monografia