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Titolo: | VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014 |
Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2014 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (260 pages) |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
Titolo autorizzato: | VTS |
ISBN: | 1-4799-2611-6 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910132481003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |