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Record Nr.
UNINA9910132481003321
Titolo
VTS : 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium : 13-17 April 2014
Pubbl/distr/stampa
New York : , : IEEE, , 2014
ISBN
1-4799-2611-6
Descrizione fisica
1 online resource (260 pages)
Soggetti
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
Lingua di pubblicazione
Inglese
Formato
Materiale a stampa
Livello bibliografico
Monografia