2018 IEEE 27th Asian Test Symposium : 15-18 October 2018, Hefei, China / / IEEE Computer Society
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| Titolo: |
2018 IEEE 27th Asian Test Symposium : 15-18 October 2018, Hefei, China / / IEEE Computer Society
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| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (79 pages) |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Electronic digital computers - Testing - Circuits |
| Electronic circuits - Testing | |
| Fault-tolerant computing | |
| Titolo autorizzato: | 2018 IEEE 27th Asian Test Symposium |
| ISBN: | 1-5386-9466-2 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996280069103316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |