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IEEE International Workshop on IDDQ Testing : digest of papers, November 5-6, 1997, Washington, D.C



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Titolo: IEEE International Workshop on IDDQ Testing : digest of papers, November 5-6, 1997, Washington, D.C Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society Press, 1997
Disciplina: 621.39/5/0287
Soggetto topico: Iddq testing - Congresses
Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing - Congresses
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Persona (resp. second.): JayasumanaAnura P
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: IEEE International Workshop on IDDQ Testing : digest of papers, November 5-6, 1997, Washington, D.C  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910872626003321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui