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Metric mapping concepts for TIA / / Michelle Potts Steves; Jean Scholtz



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Autore: Steves Michelle Potts Visualizza persona
Titolo: Metric mapping concepts for TIA / / Michelle Potts Steves; Jean Scholtz Visualizza cluster
Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Descrizione fisica: 1 online resource
Altri autori: ScholtzJean  
StevesMichelle Potts  
Note generali: 2004.
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.
Title from PDF title page.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Titolo autorizzato: Metric mapping concepts for TIA  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910710775403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui