Applications and metrology at nanometer scale 1 : smart materials, electromagnetic waves and uncertainties / / Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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| Autore: |
Dahoo Pierre Richard
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| Titolo: |
Applications and metrology at nanometer scale 1 : smart materials, electromagnetic waves and uncertainties / / Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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| Pubblicazione: | Hoboken, New Jersey : , : John Wiley & Sons, Incorporated |
| London, England : , : ISTE Ltd, , [2021] | |
| ©2021 | |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (251 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 780 |
| Soggetto topico: | Materials |
| Soggetto genere / forma: | Electronic books. |
| Persona (resp. second.): | PougnetPhilippe |
| El HamiAbdelkhalak | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index. |
| Titolo autorizzato: | Applications and metrology at nanometer scale 1 |
| ISBN: | 1-119-80814-6 |
| 1-119-80824-3 | |
| 1-119-80822-7 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910555082603321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |