DFT : proceedings of the 2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems : 1-3 October 2014, Amsterdam

• Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2014
• Descrizione fisica: 1 online resource (xvi, 190 pages)
• Soggetto topico: Integrated circuits - Very large scale integration; Nanotechnology; Integrated circuits - Fault tolerance
• Titolo autorizzato: DFT
• ISBN: 1-4799-6155-8
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 9910141903303321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II