1.

Record Nr.

UNINA9910141903303321

Titolo

DFT : proceedings of the 2014 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems : 1-3 October 2014, Amsterdam

Pubbl/distr/stampa

New York : , : IEEE, , 2014

ISBN

1-4799-6155-8

Descrizione fisica

1 online resource (xvi, 190 pages)

Soggetti

Integrated circuits - Very large scale integration

Nanotechnology

Integrated circuits - Fault tolerance

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia