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2006 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Conference Center, S. Lake Tahoe, California, October 16-19, 2006
2006 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Conference Center, S. Lake Tahoe, California, October 16-19, 2006
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : Electron Devices Society, 2006
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Reliability
Integrated circuits - Reliability - Wafer-scale integration
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
ISBN 1-5090-9096-7
1-4244-0297-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910146723603321
[Place of publication not identified], : Electron Devices Society, 2006
Materiale a stampa
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2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's
2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2006
Descrizione fisica 1 online resource (384 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Design and construction
Integrated circuits - Very large scale integration
ISBN 1-5090-9090-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996207486803316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2006
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2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's
2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2006
Descrizione fisica 1 online resource (384 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Design and construction
Integrated circuits - Very large scale integration
ISBN 1-5090-9090-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910145648003321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2006
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2007 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
2007 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2007
Descrizione fisica 1 online resource
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits
ISBN 1-5090-8532-7
1-4244-1378-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996215958903316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2007
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2007 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
2007 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2007
Descrizione fisica 1 online resource
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits
ISBN 1-5090-8532-7
1-4244-1378-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910144963903321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2007
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2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology : Austin, Texas, May 30-June 1, 2007 : proceedings / / sponsored by IEEE Central Texas Station ... [et al.]
2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology : Austin, Texas, May 30-June 1, 2007 : proceedings / / sponsored by IEEE Central Texas Station ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa IEEE
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Very large scale integration - Design
Computer-aided design
ISBN 1-5090-8724-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology
Electromagnetics in Advanced Applications
Record Nr. UNISA-996280032303316
IEEE
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2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology : Austin, Texas, May 30-June 1, 2007 : proceedings / / sponsored by IEEE Central Texas Station ... [et al.]
2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology : Austin, Texas, May 30-June 1, 2007 : proceedings / / sponsored by IEEE Central Texas Station ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa IEEE
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Very large scale integration - Design
Computer-aided design
ISBN 1-5090-8724-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology
Electromagnetics in Advanced Applications
Record Nr. UNINA-9910143016903321
IEEE
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2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : 15-18 October 2007, S. Lake Tahoe, CA, USA / / IEEE Electron Devices Society
2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : 15-18 October 2007, S. Lake Tahoe, CA, USA / / IEEE Electron Devices Society
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2007
Descrizione fisica 1 online resource (x, 168 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Reliability
Integrated circuits - Reliability - Wafer-scale integration
ISBN 1-5090-8459-2
9781424417726
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2007 Institute of Electrical and Electronics Engineers International Integrated Reliability Workshop Final Report
Record Nr. UNISA-996279898803316
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2007
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2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : 15-18 October 2007, S. Lake Tahoe, CA, USA / / IEEE Electron Devices Society
2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : 15-18 October 2007, S. Lake Tahoe, CA, USA / / IEEE Electron Devices Society
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2007
Descrizione fisica 1 online resource (x, 168 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Reliability
Integrated circuits - Reliability - Wafer-scale integration
ISBN 1-5090-8459-2
9781424417726
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 2007 Institute of Electrical and Electronics Engineers International Integrated Reliability Workshop Final Report
Record Nr. UNINA-9910139130803321
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2007
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2007 IEEE International Workshop on Radio-Frequency Integration Technology
2007 IEEE International Workshop on Radio-Frequency Integration Technology
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2007
Descrizione fisica 1 online resource
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Radio frequency integrated circuits
Sensor networks
ISBN 1-5090-8524-6
1-4244-1308-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910144965003321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2007
Materiale a stampa
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