top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) LiBing-Zong
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910872987303321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (200 pages) : illustrations
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) TanWilson
Soggetto topico Microelectronics
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996213523703316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (200 pages) : illustrations
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) TanWilson
Soggetto topico Microelectronics
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910872996303321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (5 volumes) : illustrations
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996213521103316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (5 volumes) : illustrations
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910872984903321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop
2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Disciplina 621.3815
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217696603316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop
2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Disciplina 621.3815
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910872764603321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2002
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) ThongJohn T. L
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996216899003316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2002
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) ThongJohn T. L
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910873040803321
[Place of publication not identified], : I E E E, 2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
2002 IEEE International Integrated Reliability Workshop : final report : Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 21-24, 2002
2002 IEEE International Integrated Reliability Workshop : final report : Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 21-24, 2002
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE Society, 2002
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Reliability
Integrated circuits - Wafer-scale integration - Reliability
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996202498803316
[Place of publication not identified], : IEEE Society, 2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui

Data di pubblicazione

Altro...