2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | LiBing-Zong |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910872987303321 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource (200 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | TanWilson |
Soggetto topico | Microelectronics |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996213523703316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource (200 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | TanWilson |
Soggetto topico | Microelectronics |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910872996303321 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource (5 volumes) : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Electronic circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996213521103316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource (5 volumes) : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Electronic circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910872984903321 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Disciplina | 621.3815 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996217696603316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
Materiale a stampa | ||
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2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Disciplina | 621.3815 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910872764603321 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | ThongJohn T. L |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996216899003316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2002 | ||
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2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | ThongJohn T. L |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910873040803321 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2002 | ||
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2002 IEEE International Integrated Reliability Workshop : final report : Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 21-24, 2002 |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE Society, 2002 |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico |
Integrated circuits - Reliability
Integrated circuits - Wafer-scale integration - Reliability Electrical & Computer Engineering Engineering & Applied Sciences Electrical Engineering |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996202498803316 |
[Place of publication not identified], : IEEE Society, 2002 | ||
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