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2000 IEEE Asia-Pacific Conference on Asic Proceedings
2000 IEEE Asia-Pacific Conference on Asic Proceedings
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2000
Disciplina 621.3815
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217331303316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2000
Materiale a stampa
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2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report
2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2000
Disciplina 621.3815
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217140703316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2000
Materiale a stampa
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2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing : April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings
2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing : April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2000
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Defects
Iddq testing
Metal oxide semiconductors, Complementary
Electrical & Computer Engineering
Electrical Engineering
Engineering & Applied Sciences
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996218751103316
[Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2000
Materiale a stampa
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2000 International Test Conference
2000 International Test Conference
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2000
Descrizione fisica 1 online resource (1172 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217259003316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2000
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2001 4th International Conference on ASIC
2001 4th International Conference on ASIC
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource : illustrations
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) TangTing-Ao
Soggetto topico Application specific integrated circuits
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996213523403316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
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2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) LiBing-Zong
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996199305303316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
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2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (200 pages) : illustrations
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) TanWilson
Soggetto topico Microelectronics
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996213523703316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
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2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Descrizione fisica 1 online resource (5 volumes) : illustrations
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Electronic circuits
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996213521103316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
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2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop
2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Disciplina 621.3815
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996217696603316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001
Materiale a stampa
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2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Pubbl/distr/stampa [Place of publication not identified], : I E E E, 2002
Disciplina 621.3815
Altri autori (Persone) ThongJohn T. L
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996216899003316
[Place of publication not identified], : I E E E, 2002
Materiale a stampa
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