2000 IEEE Asia-Pacific Conference on Asic Proceedings |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2000 |
Disciplina | 621.3815 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996217331303316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2000 | ||
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2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2000 |
Disciplina | 621.3815 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996217140703316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2000 | ||
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2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing : April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2000 |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico |
Integrated circuits - Defects
Iddq testing Metal oxide semiconductors, Complementary Electrical & Computer Engineering Electrical Engineering Engineering & Applied Sciences |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996218751103316 |
[Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2000 | ||
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2000 International Test Conference |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2000 |
Descrizione fisica | 1 online resource (1172 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996217259003316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2000 | ||
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2001 4th International Conference on ASIC |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | TangTing-Ao |
Soggetto topico | Application specific integrated circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996213523403316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | LiBing-Zong |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996199305303316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource (200 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | TanWilson |
Soggetto topico | Microelectronics |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996213523703316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Descrizione fisica | 1 online resource (5 volumes) : illustrations |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico | Electronic circuits |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996213521103316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2001 |
Disciplina | 621.3815 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996217696603316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2001 | ||
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2002 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2002 |
Disciplina | 621.3815 |
Altri autori (Persone) | ThongJohn T. L |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996216899003316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2002 | ||
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