2021 IEEE/ACM Third International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest)
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| Titolo: |
2021 IEEE/ACM Third International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest)
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| Pubblicazione: | IEEE |
| Altri titoli varianti: | 2021 IEEE/ACM Third International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning |
| Titolo autorizzato: | 2021 IEEE |
| ISBN: | 1-66544-565-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910554057003321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |