2021 IEEE/ACM Third International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest)

• Record Nr.: UNINA9910554057003321
• Pubbl/distr/stampa: IEEE
• ISBN: 1-66544-565-3
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia