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| Autore: |
Gilfrich, John V.
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| Titolo: |
Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 42 Annual Conference of Applications of X-Ray Analysis, held August 2-6, 1993, in Denver, Colorado / edited by John V. Gilfrich ... [et al.]
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| Pubblicazione: | New York : Plenum Press, 1994 |
| Descrizione fisica: | xxi, 756 p. ; 25 cm |
| Disciplina: | 548 |
| Soggetto non controllato: | Cristallografia |
| Raggi x | |
| Titolo autorizzato: | Advances in X-Ray Analysis ![]() |
| ISBN: | 0-306-44901-3 |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990001119040403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 37-025.037 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |