Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Autore: |
Lan, Rui
|
| Titolo: |
Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
|
| Pubblicazione: | Singapore, : Springer, 2020 |
| Descrizione fisica: | XI, 139 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 620.11(Materiali dell'ingegneria) |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| 541.377(Semiconduttori) | |
| Titolo autorizzato: | Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0243373 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://rd.springer.com/book/10.1007/978-981-15-2217-8 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |