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Proceedings : ... IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
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Titolo:
Proceedings : ... IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
Pubblicazione:
Los Alamitos, California : , : CPS, Conference Publishing Services, IEEE Computer Society, , [2011]-
Disciplina:
621
Soggetto topico:
Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction
Integrated circuits - Fault tolerance
Nanotechnology
Circuits intégrés - Tolérance aux fautes
Nanotechnologie
Soggetto genere / forma:
Conference papers and proceedings.
Titolo abbreviato (Periodici):
Proc. IEEE Int. Symp. Defect Fault Toler. VLSI Nanotechnol. Syst
Altri titoli varianti:
.. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
DFT ..
Proceedings of the ... IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
Proceedings of the ... IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS)
DFTS
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) ... IEEE International Symposium on
Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) ... IEEE International Symposium on
Titolo autorizzato:
Proceedings
Formato:
Materiale a stampa
Livello bibliografico
Periodico
Lingua di pubblicazione:
Inglese
Record Nr.:
996564470003316
Lo trovi qui:
Univ. di Salerno
Opac:
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