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| Autore: |
Donges, Axel
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| Titolo: |
Laser Measurement Technology : Fundamentals and Applications / Axel Donges, Reinhard Noll
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| Pubblicazione: | Berlin ; Heidelberg, : Springer, 2015 |
| Titolo uniforme: | Laser Measurement Technology |
| Descrizione fisica: | xiv, 422 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| 78A40 - Waves and radiation in optics and electromagnetic theory [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Holografic InterferometryInline Process Control |
| Laser Beam Shaping and Guiding | |
| Laser Doppler Methods | |
| Laser Interferometry | |
| Laser Measurement Technology | |
| Laser Spectroscopy | |
| Laser-Matter Interaction | |
| Properties of Laser Radiation | |
| Speckle Measurements Methods | |
| Altri autori: |
Noll, Reinhard
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| Titolo autorizzato: | Laser Measurement Technology ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0133391 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-662-43634-9 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |