High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi
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| Autore: |
Du, Shichang
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| Titolo: |
High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi
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| Pubblicazione: | Singapore, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica: | XIV, 329 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 530.417(Fisica superficiale) |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| 658.4(Controllo di qualità) | |
| 530.4175(Film sottili) | |
| 623.045(Ingegneria meccanica) | |
| Altri autori: |
Xi, Lifeng
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| Titolo autorizzato: | High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00126793 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-981-15-0279-8 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |