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1. |
Record Nr. |
UNICAMPANIAVAN00126793 |
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Autore |
Du, Shichang |
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Titolo |
High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi |
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Pubbl/distr/stampa |
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Singapore, : Springer, 2019 |
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Descrizione fisica |
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XIV, 329 p. : ill. ; 24 cm |
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Altri autori (Persone) |
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Disciplina |
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530.417 |
620.1 |
658.4 |
530.4175 |
623.045 |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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