Helium Ion Microscopy : Principles and Applications / David C. Joy
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| Autore: |
Joy, David C.
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| Titolo: |
Helium Ion Microscopy : Principles and Applications / David C. Joy
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| Pubblicazione: | New York, : Springer, 2013 |
| Descrizione fisica: | VIII, 64 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 502.82(Microscopia) |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| Titolo autorizzato: | Helium Ion Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00255689 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-1-4614-8660-2 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
SpringerBriefs in Materials Cham [etc.] . -Springer