01561nam0 22003733i 450 VAN0025568920251212110745.102N978146148660220230310d2013 |0itac50 baengUS|||| |||||i e bcrHelium Ion MicroscopyPrinciples and ApplicationsDavid C. JoyNew YorkSpringer2013VIII, 64 p.ill.24 cm001VAN001232452001 SpringerBriefs in Materials210 Cham [etc.]SpringerUSNew YorkVANL000011502.82Microscopia22620.5Nanotecnologia22JoyDavid C.VANV2088741064964Springer <editore>VANV108073650Joy, D. C.Joy, David C.VANV208875Joy, D.C.Joy, David C.VANV208876ITSOL20251219RICAhttps://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-1-4614-8660-2E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN00255689BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2304 17BIB2304/35 35 20230310 BuonoHelium Ion Microscopy2541937UNICAMPANIA