Correction factors for on-line microprobe analysis of multielement alloy systems [[electronic resource] /] / Jalaiah Unnam, Darrel R. Tenney, and William D. Brewer
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| Autore: |
Unnam Jalaiah
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| Titolo: |
Correction factors for on-line microprobe analysis of multielement alloy systems [[electronic resource] /] / Jalaiah Unnam, Darrel R. Tenney, and William D. Brewer
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| Pubblicazione: | Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, Scientific and Technical Information Office, , 1977 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (v, 211 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Electron probe microanalysis |
| Alloys - Analysis | |
| Microprobe analysis | |
| X-ray microanalysis | |
| Altri autori: |
TenneyDarrel R
BrewerWilliam D
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on July 1, 2012). |
| "Performing organization, NASA Langley Research Center"--Rept. documentation p. | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Correction factors for on-line microprobe analysis of multielement alloy systems |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910701999403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |