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Autore: | Hebner R. E., Jr |
Titolo: | 1981 annual report : optical measurements for interfacial conduction and breakdown / / R. E. Hebner Jr.; E. F. Kelley; J. N. Hagler |
Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1983 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Altri autori: | HaglerJ. N HebnerR. E., Jr KelleyE. F |
Note generali: | 1983. |
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
Title from PDF title page. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | 1981 annual report |
Titolo autorizzato: | 1981 annual report |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910710214403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |