Vai al contenuto principale della pagina
Titolo: | Confocal Raman Microscopy / Jan Toporski, Thomas Dieing, Olaf Hollricher editors |
Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
Titolo uniforme: | Confocal Raman Microscopy |
Edizione: | 2. ed |
Descrizione fisica: | xxiv, 596 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
74K35 - Thin films [MSC 2020] | |
74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | 3D Confocal Raman Imaging |
Confocal Raman Spectroscopy Review | |
Correlative Microscopy | |
Nanospectroscopy of Individual Carbon Nanotubes | |
Raman Imaging of Plant Cell Walls | |
Raman Imaging of Polymeric Materials | |
Raman Micro-Spectral Imaging | |
Raman Microscopy in Microbiology | |
Stress Analysis by Raman Microscopy | |
Persona (resp. second.): | Dieing, Thomas |
Hollricher, Olaf | |
Toporski, Jan | |
Titolo autorizzato: | Confocal Raman Microscopy |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0208433 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-75380-5 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |