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15026-2-2022 - ISO/IEC/IEEE International Standard - Systems and software engineering--Systems and software assurance . Part 2, Assurance case / / IEEE
| 15026-2-2022 - ISO/IEC/IEEE International Standard - Systems and software engineering--Systems and software assurance . Part 2, Assurance case / / IEEE |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2022 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (30 pages) |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico |
Quality assurance
Software engineering - Standards Systems engineering |
| ISBN | 1-5044-9030-4 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | 15026-2-2022 - ISO/IEC/IEEE International Standard - Systems and software engineering--Systems and software assurance--Part 2 |
| Record Nr. | UNISA-996575144003316 |
| New York : , : IEEE, , 2022 | ||
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1996 IEEE/Semi Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop
| 1996 IEEE/Semi Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (426 pages) |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico | Process control |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910873082603321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1996 | ||
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1997 IEEE/Semi Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop
| 1997 IEEE/Semi Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (480 pages) |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico |
Process control
Semiconductor industry |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910872411403321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 1997 | ||
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2000 : sistemi di gestione per la qualità- fondamenti e terminologia (ISO/DIS 9000)
| 2000 : sistemi di gestione per la qualità- fondamenti e terminologia (ISO/DIS 9000) |
| Pubbl/distr/stampa | Milano : Ente Nazionale Italiano di Unificazione, copyr. 2000 |
| Descrizione fisica | 53 p. : ill. ; 30 cm |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto non controllato |
Controllo di qualità - standardizzazione
piccole imprese - gestione |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISA-990000257110203316 |
| Milano : Ente Nazionale Italiano di Unificazione, copyr. 2000 | ||
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2000 : sistemi di gestione per la qualità- requisiti (ISO/DIS 9001)
| 2000 : sistemi di gestione per la qualità- requisiti (ISO/DIS 9001) |
| Pubbl/distr/stampa | Milano : Ente Nazionale Italiano di Unificazione, copyr. 2000 |
| Descrizione fisica | 27 p. : ill. ; 30 cm |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto non controllato |
Controllo di qualità - standardizzazione
piccole imprese - gestione |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISA-990000257100203316 |
| Milano : Ente Nazionale Italiano di Unificazione, copyr. 2000 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2000 : sistemi di gestione per la qualità- linee guida per il miglioramentodelle prestazioni (ISO/DIS 9004)
| 2000 : sistemi di gestione per la qualità- linee guida per il miglioramentodelle prestazioni (ISO/DIS 9004) |
| Pubbl/distr/stampa | Milano : Ente Nazionale Italiano di Unificazione, copyr. 2000 |
| Descrizione fisica | 70 p. : ill. ; 30 cm |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto non controllato |
Controllo di qualità - standardizzazione
piccole imprese - gestione |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISA-990000257090203316 |
| Milano : Ente Nazionale Italiano di Unificazione, copyr. 2000 | ||
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2009 10th International Symposium on Quality of Electronic Design
| 2009 10th International Symposium on Quality of Electronic Design |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico | Quality control |
| ISBN |
9781509073269
1509073264 9781424429530 1424429536 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910145404603321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2009 | ||
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2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference
| 2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico | Process control |
| ISBN | 1-4244-6519-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996200723203316 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference
| 2010 21st Annual IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico | Process control |
| ISBN |
9781424465194
1424465192 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910140810203321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
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2012 23rd Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference
| 2012 23rd Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2012 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 658.562 |
| Soggetto topico |
Process control
Semiconductor industry - Management |
| ISBN |
9781467303514
1467303518 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | ASMC 2012 proceedings produced by: semi [advertisement] -- Organizing Committee -- Corporate sponsors -- Table of contents -- Identifying systematic critical features using silicon diagnosis data -- Using selective voltage binning to maximize yield -- Analytic modeling of AC response to FET-level elements for CLY optimization -- Optimizing product yield using manufacturing defect weights -- Improving yield learning by electrical fault inspection -- Innovative approach to identify location of AMC source in cleanroom by inverse Computational Fluid Dynamics modeling -- Managing variability within wafertest production by combining lean and six sigma. |
| Record Nr. | UNINA-9910130718603321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2012 | ||
| Materiale a stampa | ||
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