Atomic-force Microscopy and Its Applications / / edited by Tomasz Tański, Marcin Staszuk, and Bogusław Ziębowicz
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| Titolo: |
Atomic-force Microscopy and Its Applications / / edited by Tomasz Tański, Marcin Staszuk, and Bogusław Ziębowicz
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| Pubblicazione: | London, United Kingdom : , : IntechOpen, , 2019 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (114 pages) : illustrations some color |
| Disciplina: | 502.82 |
| Soggetto topico: | Analytical chemistry |
| Atomic force microscopy | |
| Persona (resp. second.): | TańskiTomasz |
| StaszukMarcin | |
| ZiębowiczBogusław | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Atomic-force Microscopy and Its Applications |
| ISBN: | 1-83881-776-X |
| 1-78985-170-X | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910317765203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |