Crystalline silicon short-circuit current degradation study [[electronic resource] ] : initial results / / C.R. Osterwald, J. Pruett, and T. Moriarty
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| Autore: |
Osterwald C. R
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| Titolo: |
Crystalline silicon short-circuit current degradation study [[electronic resource] ] : initial results / / C.R. Osterwald, J. Pruett, and T. Moriarty
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| Pubblicazione: | Golden, Colo. : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2005] |
| Descrizione fisica: | 4 pages : digital, PDF file |
| Soggetto topico: | Silicon - Electric properties |
| Short circuits | |
| Altri autori: |
PruettJ (Jim)
MoriartyT
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on Apr. 27, 2006). |
| "February 2005." | |
| Altri titoli varianti: | Crystalline Silicon Short-Circuit Current Degradation Study |
| Titolo autorizzato: | Crystalline silicon short-circuit current degradation study |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910698273903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |