The detection of doped Cr presence in Sr0.6Ba0.4Nb2O3 by SIMS / / Unchul Lee
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Autore: |
Lee Unchul
|
| Titolo: |
The detection of doped Cr presence in Sr0.6Ba0.4Nb2O3 by SIMS / / Unchul Lee
|
| Pubblicazione: | Adelphi, MD : , : Army Research Laboratory, , May 1999 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (iii, 12 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Photorefractive materials |
| Secondary ion mass spectrometry | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 6). |
| Altri titoli varianti: | Detection of doped Cr presence in Sr(0.6)Ba(0.4)Nb2O3 by SIMS |
| Detection of doped chromium presence in Sr0.6Ba0.4Nb2O3 by SIMS | |
| Detection of doped chromium presence in Sr0.6Ba0.4Nb2O3 by Secondary Ion Mass Spectrometry | |
| Titolo autorizzato: | The detection of doped Cr presence in Sr0.6Ba0.4Nb2O3 by SIMS |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910698064603321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |