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Titolo: | Lightning pin injection test [[electronic resource] ] : MOSFETS in "ON" state / / Jay J. Ely ... [and others] |
Pubblicazione: | Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2011] |
Descrizione fisica: | 1 online resource (33 pages) : color illustrations |
Soggetto topico: | X ray inspection |
Damage assessment | |
Lightning | |
Metal oxide semiconductors | |
Optical microscopes | |
Waveforms | |
Altri autori: | ElyJay J |
Note generali: | Title from title screen (viewed on June 22, 2011). |
"January 2011." | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 33). |
Altri titoli varianti: | Lightning pin injection test |
Titolo autorizzato: | Lightning pin injection test |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910700601403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |