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Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman



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Autore: Abramovici, Miron
Titolo: Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
Pubblicazione: Piscataway : IEEE Press, ©1990
Descrizione fisica: XVIII,652 p. : ill. ; 27 cm
Disciplina: 621.381.'5
Soggetto non controllato: Circuiti integrati digitali
Altri autori: Breuer, Melvin A.  
Friedman, Arthur D.  
ISBN: 0-7803-1062-4
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990000527430403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 10 E I 388
Opac: Controlla la disponibilità qui