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| Autore: | Abramovici, Miron |
| Titolo: | Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman |
| Pubblicazione: | Piscataway : IEEE Press, ©1990 |
| Descrizione fisica: | XVIII,652 p. : ill. ; 27 cm |
| Disciplina: | 621.381.'5 |
| Soggetto non controllato: | Circuiti integrati digitali |
| Altri autori: | Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D. |
| ISBN: | 0-7803-1062-4 |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000527430403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 10 E I 388 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |