Vai al contenuto principale della pagina
Autore: | Abramovici, Miron |
Titolo: | Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman |
Pubblicazione: | Piscataway : IEEE Press, ©1990 |
Descrizione fisica: | XVIII,652 p. : ill. ; 27 cm |
Disciplina: | 621.381.'5 |
Soggetto non controllato: | Circuiti integrati digitali |
Altri autori: | Breuer, Melvin A. Friedman, Arthur D. |
ISBN: | 0-7803-1062-4 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 990000527430403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Collocazione: | 10 E I 388 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |