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RADC/NBS workshop moisture measurement and control for semiconductor devices, III : proceedings of the RADC/ NBS workshop held at the National Bureau of Standards Gaithersburg, MD November 2-4, 1983 / / Benjamin A. Moore; Stanley Ruthberg



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Autore: Moore Benjamin A Visualizza persona
Titolo: RADC/NBS workshop moisture measurement and control for semiconductor devices, III : proceedings of the RADC/ NBS workshop held at the National Bureau of Standards Gaithersburg, MD November 2-4, 1983 / / Benjamin A. Moore; Stanley Ruthberg Visualizza cluster
Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1984
Descrizione fisica: 1 online resource
Altri autori: MooreBenjamin A  
RuthbergStanley  
Note generali: 1984.
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.
Title from PDF title page.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Altri titoli varianti: RADC/NBS workshop moisture measurement and control for semiconductor devices, III
Titolo autorizzato: RADC  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910710586803321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui