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Autore: | Chang Y. May |
Titolo: | Error analysis and calibration uncertainty of capacitance standards at NIST [[electronic resource] /] / Y. May Chang |
Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, , [2000] |
Descrizione fisica: | 1 online resource (1 volumes (various pagings)) : illustrations |
Soggetto topico: | Capacitance meters - Calibration |
Electric capacity - Standards - United States | |
Note generali: | Title from title screen (viewed on Mar. 22, 2011). |
Paper version no longer available for sale by the Supt. of Docs. | |
"January 2000." | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (pages 38-39). |
Titolo autorizzato: | Error analysis and calibration uncertainty of capacitance standards at NIST |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910700124303321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |