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Titolo: | MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2009 |
Disciplina: | 004.568 |
Soggetto topico: | Semiconductor storage devices - Testing |
Random access memory | |
Electrical & Computer Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Electrical Engineering | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | MTDT 2009 : 2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing : proceedings, 31 August- 2 September 2009, Hsinchu, Taiwan |
ISBN: | 1-5090-7335-3 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910140047703321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |