Characterization of semiconductor materials : principles and methods / edited by Gary E. McGuire
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Characterization of semiconductor materials : principles and methods / edited by Gary E. McGuire
|
| Pubblicazione: | Paek Bridge, New Jersey : Noyes Publications, c1989 |
| Descrizione fisica: | v. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 621.3815'2 |
| Soggetto non controllato: | Semiconduttori |
| Altri autori: |
McGuire, Gary E.
|
| Note generali: | 1. v. |
| Titolo autorizzato: | Characterization of semiconductor materials |
| ISBN: | 0-8155-1200-7 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000518330403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 10 E I 377 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |