Multiple-beam Interferometry of surfaces and films / S. Tolansky
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| Autore: |
Tolansky, Samuel
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| Titolo: |
Multiple-beam Interferometry of surfaces and films / S. Tolansky
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| Pubblicazione: | New York : Dover, c1970 |
| Descrizione fisica: | 186 p. : ill. ; 21 cm |
| Disciplina: | 535.4 |
| Soggetto non controllato: | Interferometria |
| Metallografia | |
| Titolo autorizzato: | Multiple-beam Interferometry of surfaces and films |
| ISBN: | 0-486-62215-0 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000503080403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 10 B III 216 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |