X-ray microscopy and x-ray microanalysis : proceedings of the second international symposium, Stockholm, 1960 / edited by A. Engstrom, V. Cosslett, H. Pattee
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| Titolo: |
X-ray microscopy and x-ray microanalysis : proceedings of the second international symposium, Stockholm, 1960 / edited by A. Engstrom, V. Cosslett, H. Pattee
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| Pubblicazione: | Amsterdam : Elsevier, 1960 |
| Descrizione fisica: | X, 542 p. : ill. ; 28 cm |
| Disciplina: | 540 |
| 548 | |
| Soggetto non controllato: | Cristallografia |
| Raggi X | |
| Persona (resp. second.): | Engström, Arne |
| Cosslett, V. | |
| Pattee, H. | |
| Titolo autorizzato: | X-ray microscopy and x-ray microanalysis |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000349400403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | IIIg C 16 |
| 04 128-23 | |
| 37-012 | |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |