Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman
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| Autore: |
Budiman, Arief S.
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| Titolo: |
Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman
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| Pubblicazione: | Singapore, : Springer, 2015 |
| Descrizione fisica: | IX, 118 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 548(Cristallografia) |
| 543.54(Spettroscopia molecolare) | |
| 502.82(Microscopia) | |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 621.39(Microingegneria) | |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| Titolo autorizzato: | Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0242914 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://rd.springer.com/book/10.1007/978-981-287-335-4 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
SpringerBriefs in applied sciences and technology Berlin [etc.] . -Springer