01839nam0 22003973i 450 VAN024291420220801032909.523N978981287335420220314d2015 |0itac50 baengSG|||| |||||Probing Crystal Plasticity at the NanoscalesSynchrotron X-ray MicrodiffractionArief Suriadi BudimanSingaporeSpringer2015IX, 118 p.ill.24 cm001VAN01034342001 SpringerBriefs in applied sciences and technology210 Berlin [etc.]SpringerSGSingaporeVANL000061548Cristallografia22543.54Spettroscopia molecolare22502.82Microscopia22620.5Nanotecnologia22621.39Microingegneria22620.1Scienze dei materiali22BudimanArief S.VANV1986951209114Springer <editore>VANV108073650Budiman, Arief SuriadiBudiman, Arief S.VANV198696Budiman, A. S.Budiman, Arief S.VANV198697Budiman, A.S.Budiman, Arief S.VANV200845ITSOL20240614RICAhttps://rd.springer.com/book/10.1007/978-981-287-335-4E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN0242914BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2219 17BIB2219/249 249 20220314 Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales2789810UNICAMPANIA